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Treffer: Correlative Analysis of Surfaces and Nanostructures to Understand their Physics Using AFM and SEM

Titel:
Correlative Analysis of Surfaces and Nanostructures to Understand their Physics Using AFM and SEM / Darshit Jangid ; Constanze Eulenkamp, Gia-Khanh Pham, Harald Plank, Christian Schwalb ; Quantum Design Microscopy GmbH
Beteiligt:
Jangid, Darshit (Verfasser); Eulenkamp, Constanze (Akademischer Betreuer); Khanh, Pham-Gia (Akademischer Betreuer) ; Plank, Harald (Akademischer Betreuer); Schwalb, Christian (Akademischer Betreuer) 
Körper­schaft:
Quantum Design Microscopy GmbH (Sonstige)
Veröffent­licht:
München : Hochschule für angewandte Wissenschaften München, 2024
Umfang:
1 Online-Ressource
Format:
E-Book
Sprache:
Englisch
Hochschul­schrift:
Masterarbeit, München, Hochschule für angewandte Wissenschaften München, 2024

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