• Structural, Syntactic, and Sta...
  • *Description*

*Result*: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

*Title*:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings / edited by Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick de Ridder
*Author/editor-in-chief*:
Yeung, Dit-Yan (Herausgeber); Kwok, James T (Herausgeber); Fred, Ana (Herausgeber); Roli, Fabio (Herausgeber); de Ridder, Dick (Herausgeber)
*Edition*:
1st ed. 2006
*Publication*:
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2006
*Distribution*:
Cham : Springer International Publishing AG
*Physical description scale*:
1 Online-Ressource (XXI, 939 Seiten)
*Format*:
*eBook*
*Language*:
*eng*
*series_multipart*:
Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics, ISSN 3004-9954 ; 4109
*Other edition entry*:
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2006. - ISBN 9783540372363
*Subject Added Keywords*:
*ISBN*:
9783540372417 ; 3540372415 ; --354037236-9 ; --354082758-7 ; 978--354037236-3 (Sekundärausgabe) ; 978--354082758-0 (Sekundärausgabe)
*DOI*:
10.1007/11815921

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