Treffer: Investigating the influence of microstructure and grain boundaries on electric properties in thin film oxide RRAM devices: a component specific approach

Titel:

Beteiligt:

Körperschaft:

Veröffentlicht:

Darmstadt : Universitäts- und Landesbibliothek Darmstadt, 2022

Umfang:

1 Online-Ressource (viii, 180 Seiten)

Format:

E-Book

Sprache:

Englisch

Hochschulschrift:

Dissertation, Technische Universität Darmstadt, 2022

Anmerkungen:

kostenfrei

RVK-Notation:

Schlagworte:

DOI:

10.26083/tuprints-00021657

Open Access Rechte:

Open Access
CC BY-NC-SA 4.0

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