Treffer: Simultaneous deconvolution of In‐Plane and Out‐of‐Plane forces of HOPG at the atomic scale under ambient conditions by multifrequency atomic force microscopy

Veröffentlicht in:
Advanced materials interfaces. - Weinheim : Wiley-VCH, 2014-. - Online-Ressource. - 10.1002/(ISSN)2196-7350. - ISSN 2196-7350. - (2021), Artikel-ID: 2101288
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Entstehung:
2021
Format:
E-Artikel
Sprache:
Englisch
DOI:
10.1002/admi.202101288