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ISO-690 (author-date, English)

ZHAO, Weihong, HANNAPPEL, Thomas, JACOBS, Heiko O. und PROST, Werner, 2017. Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop. Ilmenau: TU Ilmenau.

Elsevier - Harvard (with titles)

Zhao, W., Hannappel, T., Jacobs, H.O., Prost, W., 2017. Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop. TU Ilmenau, Ilmenau. https://doi.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2017000187

American Psychological Association 7th edition

Zhao, W., Hannappel, T., Jacobs, H. O., & Prost, W. (ca. 2017). Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop [TU Ilmenau; Cd]. https://doi.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2017000187

Springer - Basic (author-date)

Zhao W, Hannappel T, Jacobs HO, Prost W (2017) Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop. TU Ilmenau

Juristische Zitierweise (Stüber) (Deutsch)

Zhao, Weihong/ Hannappel, Thomas/ Jacobs, Heiko O./ Prost, Werner, Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop, Ilmenau 2017.

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