Result: Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop

*Title*:

Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop / Weihong Zhao ; Gutachter: Heiko O. Jacobs, Werner Prost ; Betreuer: Thomas Hannappel

*Author/editor-in-chief*:

*Publication*:

Ilmenau : TU Ilmenau, 2017

*Physical description scale*:

Online-Ressource

*Format*:

*eBook*

*Language*:

*ger*

*Dissertation note*:

Dissertation, Ilmenau, TU Ilmenau, 2017

*Subject Added Keywords*:

*Result*: Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop