*Result*: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

*Title*:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17–19, 2018, Proceedings / edited by Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly
*Author/editor-in-chief*:
Bai, Xiao (Herausgeber); Hancock, Edwin R (Herausgeber); Ho, Tin Kam (Herausgeber); Wilson, Richard C (Herausgeber); Biggio, Battista (Herausgeber); Robles-Kelly, Antonio (Herausgeber)
*Edition*:
1st ed. 2018
*Publication*:
Cham : Springer International Publishing, 2018
*Distribution*:
Cham : Springer International Publishing AG
*Physical description scale*:
1 Online-Ressource (XIII, 524 Seiten) : 134 illus.
*Format*:
*eBook*
*Language*:
*eng*
*series_multipart*:
Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics, ISSN 3004-9954 ; 11004
*Other edition entry*:
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition. - Cham : Springer International Publishing, 2018. - ISBN 9783319977843
*ISBN*:
9783319977850 ; 3319977857 ; 978--331997784-3 (Sekundärausgabe) ; 978--331997786-7 (Sekundärausgabe)
*DOI*:
10.1007/978-3-319-97785-0

*Additional information*

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