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Treffer: Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Titel:
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
Beteiligt:
Goldstein, Joseph (Verfasser) ; Newbury, Dale E. (Verfasser); Michael, Joseph R. (Verfasser); Ritchie, Nicholas W. M. (Verfasser); Scott, John Henry J. (Verfasser); Joy, David C. (Verfasser) 
Ausgabe:
Fourth edition
Veröffent­licht:
New York : Springer, [2018]
Umfang:
XXIII, 550 Seiten : Illustrationen, Diagramme
Format:
Buch
Sprache:
Englisch
Anmerkungen:
Previous edition: New York: Plenum Press, 2003.
Literaturangaben
RVK-Notation:
UH 6310 UH 6320 VG 9900
Schlagworte:
ISBN:
9781493966745 ; 9781493966769 (Sekundärausgabe)

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