Treffer: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Titel:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings / edited by Antonio Robles-Kelly, Marco Loog, Battista Biggio, Francisco Escolano, Richard Wilson
Beteiligt:
Ausgabe:
1st ed. 2016
Veröffentlicht:
Cham : Springer International Publishing, 2016
Vertrieb:
Cham : Springer International Publishing AG
Umfang:
1 Online-Ressource (XIII, 588 Seiten) : 167 illus.
Format:
Sprache:
Englisch
Schriftenreihe/Mehrbändiges Werk:
Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics, ISSN 3004-9954 ; 10029
Andere Ausgaben:
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition. - Cham : Springer International Publishing, 2016. - ISBN 9783319490540
ISBN:
9783319490557 ; 3319490559 ; 978--331949054-0 (Sekundärausgabe) ; 978--331949056-4 (Sekundärausgabe)
DOI:
10.1007/978-3-319-49055-7