Treffer: Pattern recognition and machine learning

Titel:
Pattern recognition and machine learning : proceedings of the Japan-U.S. Seminar on the Learning Process in Control Systems : held in Nagoya, Japan, August 18 - 20, 1970 / ed. by K.S. Fu
Beteiligt:
Fu, King S. (Hrsg.) 
Körper­schaft:
Japan US Seminar on the Learning Process in Control Systems (1970 : Nagoya)
Veröffent­licht:
New York : Plenum Press, 1971
Umfang:
IX, 343 S.
Format:
Buch
Sprache:
Englisch
RVK-Notation:
ZN 6050

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