In-situ scanning transmission electron microscopy study of Al-amorphous SiO2 layer-SiC interface - Adabifiroozjaei, Esmaeil (Verfasser); Rastkerdar, Ebad (Verfasser); Nemoto, Yoshihiro (Verfasser); Nakayama, Yoshiaki (Verfasser); Nishimiya, Yuki (Verfasser); Fronzi, Marco (Verfasser); Yao, Yin (Verfasser); Nguyen, Minh Nhut (Verfasser); Molina-Luna, Leopoldo (Verfasser); Suzuki, Tohru S. (Verfasser) (Journal of materials science, 2023)