Oxide thickness-dependent resistive switching characteristics of Cu/HfO2/Pt ECM devices - Kim, Taewook (Verfasser); Vogel, Tobias (Verfasser); Piros, Eszter (Verfasser); Nasiou, Déspina (Verfasser); Kaiser, Nico (Verfasser); Schreyer, Philipp (Verfasser); Eilhardt, Robert (Verfasser); Zintler, Alexander (Verfasser); Arzumanov, Alexey (Verfasser); Petzold, Stefan (Verfasser); Molina-Luna, Leopoldo (Verfasser); Alff, Lambert (Verfasser) (Applied physics letters, 2023)