Treffer: The dangling-bond defect in silicon

Titel:
The dangling-bond defect in silicon : Insights into electronic and structural effects from first-principles calculations of the EPR-parameters / Gernot Pfanner. Betreuer: Jörg Neugebauer ; W. Gero Schmidt
Beteiligt:
Pfanner, Gernot ; Neugebauer, Jörg (Betreuer) ; Schmidt, W. Gero (Betreuer) 
Veröffent­licht:
Paderborn : Universitätsbibliothek, 2012
Umfang:
Online-Ressource
Format:
E-Book
Sprache:
Englisch
Hochschul­schrift:
Paderborn, Universität Paderborn, Diss., 2012
Andere Ausgaben:
Druckausg.: Pfanner, Gernot: The dangling-bond defect in silicon

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