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Treffer: Proceedings of the First International Joint Conference on Pattern Recognition, October 30 - November 1, 1973, Washington, D. C.

Veröffent­licht:
New York, NY : IEEE, 1973
Umfang:
IX, 553 Seiten : Illustrationen, Diagramme
Format:
Buch
Sprache:
Englisch
Anmerkungen:
[IEEE catalog no.] 73CH0821-9C