*Result*: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

*Title*:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings / edited by Edwin R. Hancock, Richard C Wilson, Terry Windeatt, Ilkay Ulusoy, Francisco Escolano
*Author/editor-in-chief*:
Hancock, Edwin R (Herausgeber); Wilson, Richard C (Herausgeber); Windeatt, Terry (Herausgeber); Ulusoy, Ilkay (Herausgeber); Escolano, Francisco (Herausgeber)
*Edition*:
1st ed. 2010
*Publication*:
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2010
*Distribution*:
Cham : Springer International Publishing AG
*Physical description scale*:
1 Online-Ressource (XV, 758 Seiten) : 246 illus.
*Format*:
*eBook*
*Language*:
*eng*
*series_multipart*:
Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics, ISSN 3004-9954 ; 6218
*Other edition entry*:
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2010. - ISBN 9783642149795
*RVK-Notation*:
*SS 4000*
*Subject Added Keywords*:
*ISBN*:
9783642149801 ; 3642149804 ; 978--364214979-5 (Sekundärausgabe) ; 978--364214981-8 (Sekundärausgabe)
*DOI*:
10.1007/978-3-642-14980-1

*Additional information*

*Additional functions*