Treffer: Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfährigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten
Titel:
Beteiligt:
Ausgabe:
[Mikrofiche-Ausg.]
Entstehung:
1995
Umfang:
VI, 280 Bl. : Ill., graph. Darst.
Format:
Sprache:
Deutsch
Hochschulschrift:
Hannover, Univ., Diss., 1995
Anmerkungen:
Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x
Lokale Schlagworte: