Result: Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfährigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten

*Title*:

*Author/editor-in-chief*:

Opitz, Martin

*Edition*:

[Mikrofiche-Ausg.]

*Manufacture*:

1995

*Physical description scale*:

VI, 280 Bl. : Ill., graph. Darst.

*Format*:

*microfilm*

*Language*:

*ger*

*Dissertation note*:

Hannover, Univ., Diss., 1995

*Notes*:

Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x

*L1_Keywords*:

*Result*: Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfährigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten