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ISO-690 (author-date, English)

CHEN, Qing, FEI, Jinming, HU, Kun, JIN, Hao und ZHANG, Binbin, 2025. Research on High-Reliability Full Si C Intelligent Power Module. In: . 19 Dezember 2025.

Elsevier - Harvard (with titles)

Chen, Q., Fei, J., Hu, K., Jin, H., Zhang, B., 2025. Research on High-Reliability Full Si C Intelligent Power Module, in: . https://doi.org/10.1109/ICEDA68428.2025.11377443

American Psychological Association 7th edition

Chen, Q., Fei, J., Hu, K., Jin, H., & Zhang, B. (2025, Dezember 19). Research on High-Reliability Full Si C Intelligent Power Module. https://doi.org/10.1109/ICEDA68428.2025.11377443

Springer - Basic (author-date)

Chen Q, Fei J, Hu K, Jin H, Zhang B (2025) Research on High-Reliability Full Si C Intelligent Power Module

Juristische Zitierweise (Stüber) (Deutsch)

Chen, Qing/ Fei, Jinming/ Hu, Kun/ Jin, Hao/ Zhang, Binbin, Research on High-Reliability Full Si C Intelligent Power Module, 2025, .

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